使用 XFdtd | Remcom 模拟 ESD 测试和损坏预测

XFdtd® 电磁仿真软件 模拟静电放电 (ESD) 测试，使工程师能够确定潜在的静电放电位置。 介电击穿 器件设计中存在损坏风险的元件。本网络研讨会介绍了 XF 的一系列 ESD 仿真功能，并演示了如何在硬件测试前最大限度地降低未检测到损坏的几率。

观看录音...

概述

全世界的电子产品制造商都在使用 ESD测试来确定其设备的 ESD 敏感性。要估算每年 ESD 损失的确切成本极其困难，但可以肯定的是，ESD 需要开发和测试许多硬件原型，如果在客户手中出现故障，则会导致大量保修索赔和消费者信心损失。

考虑到与 ESD 硬件测试相关的高昂时间和材料成本，在XFdtd中模拟 ESD 测试过程的能力极具价值，可让工程师在产品开发的概念和设计阶段精确定位易受 ESD 损伤的位置并优化 ESD 缓解措施。

主要收获：

• 了解如何导入由各种测试标准定义的 ESD 波形，并使用它们在 XF 项目中创建 ESD 电流源。

• 输入材料的介电强度，并使用介电击穿近场传感器在瞬态模拟过程中监测潜在的介电击穿。

• 找到介电击穿率最高的电池。

• 报告超出额定电压和电流输入参数的电子元件，避免因不安全的限制而造成永久性损坏。