本文提出了一种在 FDTD 中模拟薄电阻片的有效方法。 该方法基于表面阻抗和分片线性递归卷积技术。 该方法可与共形方案相结合，从而可用于处理任意形状的薄片。 几个实例的仿真结果表明，这种方法是稳健、稳定和相当精确的。