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本文介绍了一种分析任意形状薄电阻片（TRS）的时域方法。该方法利用了表面阻抗矩阵和分片线性递归卷积技术。文中给出了提取的极残对数据，这些数据与 TRS 的几何形状和材料无关。首次提供了 TRS有限差分时域（FDTD）模拟的稳定性条件。该方法与共形方案相结合，可用于分析任意形状的 TRS。给出了三个测试案例的仿真结果，以显示所提方法的准确性和稳定性。