ESD 测试（静电放电测试）在全球范围内为电子产品制造商所采用，包括使用美国国家标准协会 (ANSI)、JEDEC 和国际电工委员会 (IEC) 等组织的众多标准。ESD 测试需要使用许多硬件原型，既耗时又昂贵。如果能够模拟静电放电测试过程，并精确定位无线设备中易受 ESD 损伤的位置，这将是非常有价值的，可使工程师减少设计产品时所需的原型数量，从而将 ESD 损伤降至最低。
2019 IEEE MTT-S NEMO 会议上的这篇演讲总结了XFdtd 3D EM 仿真软件中的多项 ESD 仿真功能。使用 XFdtd 的工程师可以利用 ESD 仿真器波形，定义材料的介电强度，并轻松查找 ESD 设计中的薄弱环节。此外，XFdtd 仿真中的电子电路元件会受到过压和过流监控。超过额定设计参数的元件会受到永久性损坏，XFdtd 会向工程师报告。
XFdtd 的一系列 ESD 仿真功能为 ESD 工程师提供了宝贵的工具，可用于在设计阶段优化 ESD 保护，从而减少制造过程中的 ESD 故障和购买后的保修索赔。
