射频（RF）线圈用于在磁共振（MR）系统中发射和接收信号。射频线圈的优化设计必须考虑到通过选择线圈尺寸和几何形状来实现最佳信噪比（SNR），从而最大限度地提高线圈性能的策略。尤其是线圈导体损耗和辐射损耗对信噪比值有很大影响，前者主要在低场磁共振系统中发挥作用，而后者可能是高频调谐线圈的主要损耗机制。
本文研究了分别估算线圈导体损耗和辐射损耗的有限差分时域（FDTD）方法的准确性。通过对文献中有关样本诱导电阻估算的补充，证明有限差分时域法在估算磁共振成像线圈的完整性能方面非常有效。在这项工作中，将 FDTD 结果与分析结果、有限元结果以及在表面射频线圈原型上进行的工作台测量结果进行了比较，证明了 FDTD 方法在分别估算射频线圈中的导体损耗和辐射损耗方面的准确性，并表明它在模拟缺乏损耗建模分析公式的复杂线圈设计方面具有巨大潜力。
Giovannetti G、Wang Y、Jayakumar NKT、Barney J、Tiberi G.用有限差分时域法估算磁共振导线线圈损耗。电子学。2022; 11(12):1872.https://doi.org/10.3390/electronics11121872
