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应用实例

用于 28 千兆赫 5G 的 8x8 平面相控阵天线阵列的波束成形

天线设置

图 1:天线几何形状俯视图,显示 8x8 阵列贴片的布局。

图 1:天线几何形状俯视图,显示 8x8 阵列贴片的布局。

天线的几何结构包括一块 52.5 x 52.5 毫米的介质材料(介电常数 = 2.2,损耗正切为 0.0009,厚度为 0.254 毫米),其背面是一个导电接地平面,顶部是 64 个 8x8 配置的贴片元件。每个贴片的面积为 3.4025 毫米见方,在 28 千兆赫时的间距为半波长(约 5.36 毫米)。图 1 是介质片上的贴片布局视图。每个天线的馈电点在水平方向上都偏离贴片中心 0.75 毫米,因为这是能获得最佳回波损耗的位置。每个贴片使用 28 GHz 正弦波,相位偏移可调,根据所需的主波束方向确定。对于聚焦在θd、φd 方向上的光束,确定元件相位的一个广泛使用的公式


Wn= exp{-j(2π/λ) sin(θd)[xncos(φd) +ynsin(φd)]}

其中,xnyn参照阵列左下角初始补丁的每个补丁的馈线位置(以米为单位),wn 是 位于 (xn,yn) 处的元件的相移。在XFdtd 中,这些相位通过使用参数分配给每个馈电元件,如图 2 所示,其中相移由参数名称定义。

 

图 2:贴片馈电源定义的一个示例,显示相移设置为变量,可根据所需的光束方向进行调整。

图 2:贴片馈电源定义的一个示例,显示相移设置为变量,可根据所需的光束方向进行调整。

成果

对阵列进行了模拟,以确定不同相位条件下的增益模式。 最初的测试设定所有相位相等,因此所有元件都朝向(0°,0°)方向辐射。 这导致最大增益略高于 23 dBi,3 dB 波束宽度略高于 12 度,如图 3 中通过一个主平面的线图所示。 图 4 中的天线三维 CAD 图显示了相同的图案。 调整相位以引导波束朝向(20°,90°),结果是峰值增益略微下降到 22.9 dBi,波束宽度扩大到约 13.2 度,三维图如图 5 所示。 将波束扫向阵列一角的方向(45°,40°),峰值增益降至 21.7 dBi,波束宽度适度增宽(图 6)。 当改变相位使波束转向地平线时,由于原始贴片天线的模式,阵列达到了一个极限,并形成了具有较大侧叶的增益图。 图 7 显示了几种波束模式,以说明以 10 度为单位将波束从正常向下转向 50 度的情况。

图 3:阵列图案横截面上的增益线图,用于显示所有贴片以相等振幅同相馈电的情况。峰值增益略高于 23 dBi,3 dB 波束宽度约为 12 度。

图 3:阵列图案横截面上的增益线图,用于显示所有贴片以相等振幅同相馈电的情况。峰值增益略高于 23 dBi,3 dB 波束宽度约为 12 度。

图 4:8x8 阵列的三维增益模式,当所有贴片以相等振幅同相馈电时。

图 4:8x8 阵列的三维增益模式,当所有贴片以相等振幅同相馈电时。

图 5:8x8 阵列的三维增益模式,当补丁相位引导主光束朝向(20°,90°)时。

图 5:8x8 阵列的三维增益模式,当补丁相位引导主光束朝向(20°,90°)时。

图 6:8x8 阵列的三维增益模式,当补丁相位引导主光束朝向(40°,45°)时。

图 6:8x8 阵列的三维增益模式,当补丁相位引导主光束朝向(40°,45°)时。

图 7:8x8 阵列的六种增益模式的三维增益模式,相位设置为以 10 度增量将光束引导至(0°,90°)至(50°,90°)。

图 7:8x8 阵列的六种增益模式的三维增益模式,相位设置为以 10 度增量将光束引导至(0°,90°)至(50°,90°)。

我们对每个端口的回波损耗进行了模拟,发现其值低于 -30 dB,这表明贴片调整得当。 整个阵列的辐射效率从约 78% 到 90% 以上不等,靠近阵列边缘的贴片效率通常更高。  

为了检验子阵列的性能,我们模拟了一些简单的情况,以找到 4x4、2x2 和 1x2 元阵列的典型结果。 所有这些模拟都是在以相位相等的信号输入补丁的情况下进行的。 位于主阵列一角的 4x4 和 2x2 子阵列的图案如图 8 和图 9 所示。 阵列上的两个位置,一个靠近边缘,一个靠近中心,被模拟为 1x2 子阵列,其结果只有细微差别。 靠近主阵列中心的 1x2 子阵列的典型模式如图 10 所示。 

图 8:位于主阵列一个象限的 4x4 子阵列的三维增益模式。

图 8:位于主阵列一个象限的 4x4 子阵列的三维增益模式。

图 9:位于主阵列一角的 2x2 子阵列的三维增益模式。

图 9:位于主阵列一角的 2x2 子阵列的三维增益模式。

图 10:靠近主阵列中心的 1x2 子阵列的三维增益模式。

图 10:靠近主阵列中心的 1x2 子阵列的三维增益模式。

模拟所有可能的相位组合来确定阵列的整体性能效率不高。 不过,XFdtd 中有一个宏程序,可以通过扫描各个元件的相位来全面检查阵列各个角度的增益水平。 结果是显示有效各向同性辐射功率(EIRP)累积分布函数(CDF)的曲线图。 与各向同性辐射器相比,EIRP 表示天线在特定方向上的辐射功率。 该图可用于确定在给定输入功率水平下增益高于 0 dBi 的远区球面的部分面积。 一般来说,移动设备的输入功率水平为 23 dBmW。 当生成整个 8x8 阵列的 CDF 时,可以发现 23 dBmW 的电平约为 0.225 小数面积(图 11),这意味着(1 - 0.225 = 0.775)77.5% 的远区球面可被照亮,增益高于 0 dBi。 4x4 子阵列(图 12)在 23 dBmW 输入功率下的覆盖率为 64.3%。 2x2 子阵列(图 13,50%)和靠近主阵列中心的 1x2 子阵列(图 14,40.2%)也有类似的图示。 除此处所示的子阵列外,还可能有许多其他子阵列,根据系统的需要,这些子阵列也可能具有价值。

图 11:全 8x8 阵列的 EIRP CDF 图显示,在输入功率为 23 dBmW 时,远区球面 77.5% 的范围内均为正增益。

图 11:全 8x8 阵列的 EIRP CDF 图显示,在输入功率为 23 dBmW 时,远区球面 77.5% 的范围内均为正增益。

图 12:位于主阵列一个象限的 4x4 子阵列的 EIRP CDF 图,显示在输入功率为 23 dBmW 时,远区球面 64.3% 的范围内均为正增益。

图 12:位于主阵列一个象限的 4x4 子阵列的 EIRP CDF 图,显示在输入功率为 23 dBmW 时,远区球面 64.3% 的范围内均为正增益。

图 13:位于主阵列一角的 2x2 子阵列的 EIRP CDF 图,显示输入功率为 23 dBmW 时,远区球面 50%以上的正增益。

图 13:位于主阵列一角的 2x2 子阵列的 EIRP CDF 图,显示输入功率为 23 dBmW 时,远区球面 50%以上的正增益。

图 14:位于主阵列中心附近的 1x2 子阵列的 EIRP CDF 图,显示在输入功率为 23 dBmW 时,远区球面的 40.2% 为正增益。

图 14:位于主阵列中心附近的 1x2 子阵列的 EIRP CDF 图,显示在输入功率为 23 dBmW 时,远区球面的 40.2% 为正增益。