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介质击穿预测与模拟

XF 可以帮助预测可能发生介电击穿的位置。

绝缘击穿

静电放电 (ESD)是指两个带电物体之间突然产生的电流,其原因是分隔它们的电介质击穿(即介质击穿)。当已知材料的介电强度时,XFdtd 三维电磁仿真软件可确定可能发生介电击穿的位置。

ESD_DielectricStrength_Remote

介电强度

介电强度被定义为材料在不失去绝缘性能的情况下所能承受的最大电场,可使用 XF 的材料编辑器为电学材料定义介电强度。默认情况下,材料的介电强度为无穷大,在FDTD 仿真期间不会监测介电击穿。输入以 V/m 为单位的有限介电强度可让 XF 在时间步进过程中监控材料遇到的瞬态场值,并检查潜在的介电击穿。

介质击穿传感器

为监测 FDTD 域的介质击穿,可以创建一个近场介质击穿传感器。 该传感器的边界可定义为整个模拟域、几何体的边界框或用户所需的任何子体积。 自由空间介电强度定义了模拟域中所有自由空间单元边缘的介电强度,默认值为 3.0 MV/m,与海平面空气的介电强度相对应。

ESD_Sensor_Remote
ESD_BreakdownRatio_Remote

介质击穿比

可以从 XF 的结果浏览器中选择介电击穿传感器和介电击穿比结果类型,来检查在模拟过程中超出介电强度的 FDTD 单元边缘。 电池边的介电击穿比定义为模拟过程中遇到的最大电场除以电池边的介电强度。可以确定电池边缘超过其介电强度的时刻,并通过方便的 "放大到最大值 "按钮轻松找到介电击穿比最高的电池。

RAM_BreakdownRatio

可以使用介电击穿传感器和介电击穿比结果类型来检查模拟过程中超出介电强度的电池边。

节省时间,降低成本。

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