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应用实例
模拟脑计算机植入的 XFdtd SAR 仿真
本示例显示了第一近似脑计算机植入(BCI)的比吸收率(SAR)模拟。它是使用患者头部模型的开源匿名数据集生成的,其中包括五个组织区(头皮、头骨、脑脊液、灰质和白质)。
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本研究的动机是射频、微波和天线行业,将无源和有源电路与测量的 S 参数纳入 FDTD模拟.最近,提出了一种基于反特征值方法的瞬态电路仿真无源性强制方法(C.Saunders and M.Steer, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol.99, no.11, 2011)。本文将无源性强制方法引入电磁仿真方法FDTD,以模拟以测量S参数为特征的电路网络以及天线等其他几何形状。用 XFdtd®,一些实例的仿真结果表明,拉普拉斯变换等各种方法与被动执行方法相结合,具有相当的准确和鲁棒性。这种FDTD和电路方法的结合可以应用于模拟天线以及这些以测量S参数为特征的器件。
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本示例显示了第一近似脑计算机植入(BCI)的比吸收率(SAR)模拟。它是使用患者头部模型的开源匿名数据集生成的,其中包括五个组织区(头皮、头骨、脑脊液、灰质和白质)。
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