静电放电（ESD）测试 世界各地的电子产品制造商都在使用静电放电测试，包括使用美国国家标准协会 (ANSI)、JEDEC 和国际电工委员会 (IEC) 等组织的众多标准。 ESD 测试需要使用许多硬件原型，既耗时又昂贵。 如果能够模拟 ESD 测试过程，并精确定位无线设备中易受 ESD 损伤的位置，这将是非常有价值的，可使工程师减少设计产品所需的原型数量，从而将 ESD 损伤降到最低。
本讲座展示了一种新的基于多物理场的 ESD 分析能力，可通过计算机模拟对 ESD 测试过程进行分析。 这将在设计阶段对 ESD 保护进行优化，从而减少需要制造和测试的原型数量，为公司节省时间和金钱。
